要怎么樣測(cè)試鋰電隔膜厚度？
來(lái)源：寶鄂實(shí)業(yè)
2022-06-01 13:20
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隔膜厚度在線測(cè)試原理主要是將射線通過隔膜以后的衰減量轉(zhuǎn)換成隔膜厚度。這意味著在測(cè)試過程中非得要保證測(cè)試的精度和穩(wěn)定性。
通過傳感器恒溫控制技術(shù)及內(nèi)標(biāo)樣技術(shù)來(lái)保證測(cè)試的精度和穩(wěn)定性。其中，內(nèi)標(biāo)樣技術(shù)可以自動(dòng)定期標(biāo)定，以保證傳感器的穩(wěn)定性，從而消除空氣中粉塵帶來(lái)的影響，尤其是在測(cè)陶瓷涂層時(shí)，會(huì)出現(xiàn)陶瓷掉粉等現(xiàn)象。
在測(cè)試過程中，由于陶瓷涂層厚度非常低，測(cè)量準(zhǔn)確度一直被行業(yè)內(nèi)的人士質(zhì)疑。使用單架的X射線來(lái)測(cè)試陶瓷涂層厚度。
以基膜為20μ，陶瓷涂布量為2μ和4μ的數(shù)據(jù)來(lái)為X射線分解：空載數(shù)據(jù)I0=54272，20μm基膜的測(cè)量數(shù)據(jù)Ib=53383，20μm+2μm(涂層)的測(cè)量數(shù)據(jù)Ir=51590測(cè)得20μm+4μm(涂層)的測(cè)量數(shù)據(jù)是49829。通過公式算出來(lái)對(duì)應(yīng)的基膜是20.017μ，靈巧度K值是1212，陶瓷涂布量為2的數(shù)值是2.008，它的K值是58.8；對(duì)應(yīng)陶瓷涂布量為4μ的數(shù)值是4.051，K值也一樣是58.8。
這就很好的說(shuō)明了一個(gè)問題，陶瓷涂層的衰減量遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于原膜。兩者靈巧度相差20倍左右，所以說(shuō)用X射線在涂布后測(cè)的數(shù)據(jù)主要反映了陶瓷涂層的厚度，基膜的衰減量相對(duì)陶瓷來(lái)說(shuō)小到可以忽略不計(jì)。
用其他幾種隔膜做了探測(cè)，對(duì)應(yīng)20μ的原膜，厚度變化都是在3μ以內(nèi)。通過計(jì)算和實(shí)際測(cè)量，對(duì)應(yīng)原膜厚度3μ的變化，采用X射線測(cè)厚的顯示誤差為正負(fù)0.08μ。也就是說(shuō)用X射線在涂完陶瓷的隔膜上測(cè)試，當(dāng)基膜變化在3μ的情況下，對(duì)陶瓷涂層測(cè)試的誤差影響也惟有正負(fù)0.08μ以內(nèi)，而這個(gè)誤差完全可以忽略。
二、隔膜厚度的在線控制技術(shù)
隔膜厚度在線控制技術(shù)主要有兩個(gè)，一個(gè)是MD(縱向)控制和CD(橫向)控制；另一個(gè)是隔膜在線機(jī)器視覺測(cè)試技術(shù)。
1)MD控制和CD控制
所謂的MD控制和CD控制就是指通過控制上料螺桿轉(zhuǎn)速或牽引速度來(lái)進(jìn)行MD方向的厚度閉環(huán)控制；以及通過掃描架進(jìn)行數(shù)據(jù)測(cè)量，最終實(shí)現(xiàn)CD方向的數(shù)據(jù)閉環(huán)控制。
其中的關(guān)鍵技術(shù)就是CD的橫幅對(duì)位技術(shù)，也就是掃描架的測(cè)試數(shù)據(jù)非得和全幅模頭的位置一一精準(zhǔn)對(duì)位，此外，還要考慮膜的收縮因素，惟有對(duì)位準(zhǔn)，才能控得好。
2)隔膜在線機(jī)器視覺測(cè)試技術(shù)
可能有人會(huì)覺得通過相機(jī)就能夠測(cè)試到隔膜上面的漏涂、黑點(diǎn)等，但圖像解決板不僅能測(cè)試，還能進(jìn)行智能分解。
據(jù)知道，隔膜里面非常關(guān)鍵的就是針孔的識(shí)別，針對(duì)隔膜測(cè)試推出了針孔識(shí)別技術(shù)，就是通過多道成像曝光來(lái)區(qū)別針孔和亮斑的技術(shù)。除了針孔識(shí)別以外還具有其他的智能分類功能，也就是智能分類的算法。通過智能分類，可以提供全面的瑕疵分解數(shù)據(jù)，幫助企業(yè)完善設(shè)備和工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
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