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行業(yè)資訊

鋰電池維護(hù)板常見不良剖析

來源:寶鄂實(shí)業(yè)    2019-10-25 12:50    點(diǎn)擊量:
一、無閃現(xiàn)、輸出電壓低、帶不起負(fù)載 
  此類不良首要掃除電芯不良(電芯原本無電壓或電壓低),假定電芯不良則應(yīng)查驗(yàn)維護(hù)板的自耗電,看是否是維護(hù)板自耗電過大導(dǎo)致電芯電壓低。假定電芯電壓正常,則是由于維護(hù)板整個(gè)回路不通(元器件虛焊、假焊、FUSE不良、PCB板內(nèi)部電路不通、過孔不通、MOS、IC損壞等)。具體剖析 
 
  進(jìn)程如下: 
 
 ?。ㄒ唬?、用萬用表黑表筆接電芯負(fù)極,紅表筆依次接FUSE、R1電阻兩頭,IC的Vdd、Dout、Cout端,P+端(假定電芯電壓為3.8V),逐段進(jìn)行剖析,此幾個(gè)查驗(yàn)點(diǎn)都應(yīng)為3.8V。若不是,則此段電路有問題。 
 
  1、FUSE兩頭電壓有改動(dòng):查驗(yàn)FUSE是否導(dǎo)通,若導(dǎo)公例是PCB板內(nèi)部電路不通;若不導(dǎo)公例FUSE有問題(來料不良、過流損壞(MOS或IC操控失效)、材料有問題(在MOS或IC動(dòng)作之前FUSE被燒壞),然后用導(dǎo)線短接FUSE,持續(xù)往后剖析。 
 
  2、R1電阻兩頭電壓有改動(dòng):查驗(yàn)R1電阻值,若電阻值異常,則或許是虛焊,電阻本身開裂。若電阻值無異常,則或許是IC內(nèi)部電阻呈現(xiàn)問題。 
 
  3、IC查驗(yàn)端電壓有改動(dòng):Vdd端與R1電阻相連。Dout、Cout端異常,則是由于IC虛焊或損壞。 
 
  4、若前面電壓都無改動(dòng),查驗(yàn)B-到P+間的電壓異常,則是由于維護(hù)板正極過孔不通。 
 
 ?。ǘ?、萬用表紅表筆接電芯正極,激活MOS管后,黑表筆依次接MOS管2、3腳,6、7腳,P-端。 
 
  1.MOS管2、3腳,6、7腳電壓有改動(dòng),則標(biāo)明MOS管異常。 
 
  2.若MOS管電壓無改動(dòng),P-端電壓異常,則是由于維護(hù)板負(fù)極過孔不通。 
 
  二、短路無維護(hù) 
  1、VM端電阻呈現(xiàn)問題:可用萬用表一表筆接IC2腳,一表筆接與VM端電阻相連的MOS管管腳,招認(rèn)其電阻值巨細(xì)??措娮枧cIC、MOS管腳有無虛焊。 
 
  2、IC、MOS異常:由于過放維護(hù)與過流、短路維護(hù)共用一個(gè)MOS管,若短路異常是由于MOS呈現(xiàn)問題,則此板應(yīng)無過放維護(hù)功用。 
 
  3、以上為正常狀況下的不良,也或許呈現(xiàn)IC與MOS配備不良引起的短路異常。如前期呈現(xiàn)的BK-901,其型號(hào)為‘312D’的IC內(nèi)延遲時(shí)間過長,導(dǎo)致在IC作出相應(yīng)動(dòng)作操控之前MOS或其它元器件已被損壞。注:其間招認(rèn)IC或MOS是否發(fā)生異常最簡易、直接的辦法就是對有懷疑的元器件進(jìn)行替換。 
 
  三、短路維護(hù)無自恢復(fù) 
  1、規(guī)劃時(shí)所用IC原本沒有自恢復(fù)功用,如G2J,G2Z等。 
 
  2、儀器設(shè)置短路恢復(fù)時(shí)間過短,或短路查驗(yàn)時(shí)未將負(fù)載移開,如用萬用表電壓檔進(jìn)行短路表筆短接后未將表筆從查驗(yàn)端移開(萬用表相當(dāng)于一個(gè)幾兆的負(fù)載)。 
 
  3、P+、P-間漏電,如焊盤之間存在帶雜質(zhì)的松香,帶雜質(zhì)的黃膠或P+、P-間電容被擊穿,ICVdd到Vss間被擊穿。(阻值只要幾K到幾百K)。 
 
  4、假定以上都沒問題,或許IC被擊穿,可查驗(yàn)IC各管腳之間阻值。 
 
  四、內(nèi)阻大 
  1、由于MOS內(nèi)阻相對比較穩(wěn)定,呈現(xiàn)內(nèi)阻大狀況,首要懷疑的應(yīng)該是FUSE或PTC這些內(nèi)阻相對比較簡略發(fā)生改動(dòng)的元器件。 
 
  2、假定FUSE或PTC阻值正常,則視維護(hù)板結(jié)構(gòu)檢測P+、P-焊盤與元器件面之間的過孔阻值,或許過孔呈現(xiàn)微斷現(xiàn)象,阻值較大。 
 
  3、假定以上多沒有問題,就要懷疑MOS是否呈現(xiàn)異常:首要招認(rèn)焊接有沒有問題;其次看板的厚度(是否簡略彎折),由于彎折時(shí)或許導(dǎo)致管腳焊接處異常;再將MOS管放到顯微鏡下觀測是否決裂;終究用萬用表查驗(yàn)MOS管腳阻值,看是否被擊穿。 
 
  五、ID異常 
  1、ID電阻本身由于虛焊、開裂或因電阻材料不過關(guān)而呈現(xiàn)異常:可從頭焊接電阻兩頭,若重焊后ID正常則是電阻虛焊,若開裂則電阻會(huì)在重焊后從中裂開。 
 
  2、ID過孔不導(dǎo)通:可用萬用表查驗(yàn)過孔兩頭。 
 
  3、內(nèi)部線路呈現(xiàn)問題:可刮開阻焊漆看內(nèi)部電路有無斷開、短路現(xiàn)象。 
 
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