關(guān)于鋰電池的性能測試
來源：寶鄂實(shí)業(yè)
2019-05-21 11:30
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一、管理IC（如LAPIS、TI、O2，MCU等）數(shù)據(jù)寫入部份的:
1、 I2C資料寫入及核對，如O2、DS、TI、及各家MCU方案等
2. 寫入生產(chǎn)日期(當(dāng)天日期)和系列號--- Write Serial Number and Manu date
備注：SMBUS,I2C，HDQ通信口等；
A.Current/Voltage Offset 校正
B.Voltage Gain 校正及讀值比較Voltage Calibration
C.Temperature 校正及讀值比較Temperature Calibration
D. Current Gain 校正及讀值比較--- Current Calibration
二、基體特性部份:
3.開路電壓測試：測量加載電壓后，MOS管是否能正常打開；
4. 帶載電壓測試：測量保護(hù)板的帶載能力，從而反應(yīng)保護(hù)直流阻抗
5. VCC電壓測量（芯片的工作電壓是否正常）
6. 芯片的工作頻率測量（芯片的工作晶振頻率）
7. 導(dǎo)通電阻測量（MOS管及FUSE阻值測量）；
8. 識別電阻—IDR測量；
9. 熱敏電阻---THR；
10. 正常狀態(tài)的靜態(tài)功耗電流&休眠靜態(tài)功耗（sleep）
11、關(guān)斷狀態(tài)的（Shout Down）靜態(tài)功耗電流；
三：保護(hù)特性部分測試： [1]
12. 單節(jié)電池過充保護(hù)測試（COV），
A、保護(hù)下限：測試保護(hù)板是否提前保護(hù)，影響電池容量值；
B、保護(hù)上限：測試保護(hù)板是否有保護(hù)，影響電池的安全性；
C、保護(hù)延時間上、下限：保護(hù)延時間是否在設(shè)計(jì)范圍；
D、恢復(fù)測試：保護(hù)后，是否能恢復(fù)，關(guān)系電池能否再次使用問題。
13. 單節(jié)電池過放保護(hù)測試（CUV）；
A、保護(hù)值上下限:一個是，電池能否放到最底值，容量能否完全放出來，一個是一定要保 護(hù)，否則影響電池的壽命；
B、保護(hù)延時間：保護(hù)延時間是否在設(shè)計(jì)范圍，
C、恢復(fù)值、恢復(fù)時間：保護(hù)后，是否能恢復(fù)，關(guān)系電池能否再次使用問題。
14. PACK電池過壓保護(hù)測試（POV）保護(hù)值、保護(hù)延時間、恢復(fù)值、恢復(fù)時間（如果有測COV，POV不用測，一般比較不建議只測POV，因?yàn)榭偨M的POV即使有保護(hù)，并不代表每一節(jié)的都能夠保護(hù)，萬一有某一節(jié)不保護(hù)了，那就很危險(xiǎn)。）
15. PACK電池低壓保護(hù)測試（PUV）；保護(hù)值、保護(hù)延時間、恢復(fù)值、恢復(fù)時間；原理同CUV,CUV有測CUV，可不測PUV，理由同POV；
16. 充電過流保護(hù)（OCCHG）；
A、保護(hù)值上下限：電流太小，關(guān)系充電時間，電流過大，關(guān)系電池壽命；
B、保護(hù)延時間：關(guān)系電池發(fā)熱堪至燒保護(hù)板問題；
C、恢復(fù)值、恢復(fù)時間：電池的再次使用；
17. 放電過流保護(hù)（OCDSG）；
A、保護(hù)值上下限：顯得優(yōu)為重要，下限，不能提前保護(hù)，否則影響功率，車跑不快、電動工具轉(zhuǎn)不動等，上限一定保護(hù)，不保護(hù)導(dǎo)至燒電機(jī)、電池發(fā)熱等問題；
B、保護(hù)延時間上下限:這個也比較重要，下限不保護(hù)，如果提前保護(hù)了，電動工具，會導(dǎo)致旋不緊；上限不保護(hù)，可能導(dǎo)致燒電機(jī)、電池發(fā)熱等問題；
C、恢復(fù)值、恢復(fù)時間：影響電池再次使用；
18. 堵轉(zhuǎn)電流測試；保護(hù)值、保護(hù)延時間、恢復(fù)值、恢復(fù)時間(電動工具應(yīng)該是相當(dāng)重要)
19. 短路保護(hù)測試--- (Short circuit protection)，一般比較難測試，會損傷保護(hù)器件
20. 充電過溫保護(hù)測試及恢復(fù)測試；
21. 放電過溫保護(hù)測試恢復(fù)測試；
22. 充電過低溫保護(hù)測試恢復(fù)測試；
23. 放電過低溫保護(hù)測試恢復(fù)測試；
四：平衡功能測試：
測試保護(hù)板的平衡功能是否能啟動，檢測每一節(jié)的平衡電流值；
五：預(yù)充控制：
24. 預(yù)充測試---UDPPC；
過放保護(hù)：當(dāng)電池電快要用完時，電壓到一個要求的最低值，保護(hù)板也會關(guān)閉，不能在放電了，產(chǎn)品因此會自動關(guān)機(jī)，形成的一種過放保護(hù)作用。
過充保護(hù)：在給產(chǎn)品充電時，電壓達(dá)到電池最高電壓（4.2V）時，保護(hù)板就會自動斷電關(guān)閉，顯示充滿不在繼續(xù)充電了。形成的一種過充保護(hù)作用。
短路保護(hù)：當(dāng)電池不小心短路時，保護(hù)板會在幾毫秒內(nèi)自動關(guān)閉，不會在通電，這時就是正負(fù)極碰到一塊也沒事，形成的一種短路保護(hù)不會引起爆炸事件發(fā)生。
過電流保護(hù)：當(dāng)電池放電時，保護(hù)板會有一個最大的限制電流，不同產(chǎn)品是不一樣的，當(dāng)放電超過這個電流保護(hù)板也會自動關(guān)閉
在保護(hù)板正常的情況下，Vdd為高電平，Vss，VM為低電平，DO、CO為高電平，當(dāng)Vdd，Vss，VM任何一項(xiàng)參數(shù)變換時，DO或CO端的電平將發(fā)生變化。
1、過充電檢出電壓：在通常狀態(tài)下，Vdd逐漸提升至CO端由高電平變?yōu)榈碗娖綍rVDD-VSS間電壓。
2、過充電解除電壓：在充電狀態(tài)下，Vdd逐漸降低至CO端由低電平變?yōu)楦唠娖綍rVDD-VSS間電壓。
3、過放電檢出電壓：通常狀態(tài)下，Vdd逐漸降低至DO端由高電平變?yōu)榈碗娖綍rVDD-VSS間電壓。
4、過放電解除電壓：在過放電狀態(tài)下，Vdd逐漸上升到DO端由低電平變?yōu)楦唠娖綍rVDD-VSS間電壓。
5、過電流1檢出電壓：在通常狀態(tài)下，VM逐漸升至DO由高電平變?yōu)榈碗娖綍rVM-VSS間電壓。
6、過電流2檢出電壓：在通常狀態(tài)下，VM從OV起以1ms以上4ms以下的速度升到DO端由高電平變?yōu)榈碗娖綍rVM-VSS間電壓。
7、負(fù)載短路檢出電壓：在通常狀態(tài)下，VM以O(shè)V起以1μS以上50μS以下的速度升至DO端由高電平變?yōu)榈碗娖綍rVM-VSS間電壓。
8、充電器檢出電壓：在過放電狀態(tài)下，VM以O(shè)V逐漸下降至DO由低電平變?yōu)樽優(yōu)楦唠娖綍rVM-VSS間電壓。
9、通常工作時消耗電流：在通常狀態(tài)下，流以VDD端子的電流（IDD）即為通常工作時消耗電流。
10、過放電消耗電流：在放電狀態(tài)下，流經(jīng)VDD端子的電流（IDD）即為過流放電消耗電流。
