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行業(yè)資訊

詳解鋰離子電池的自放電問題

來(lái)源:寶鄂實(shí)業(yè)    2019-02-23 16:19    點(diǎn)擊量:

自放電的一致性是影響因素的一個(gè)重要部分,自放電不一致的電池在一段時(shí)間儲(chǔ)存之后SOC會(huì)發(fā)生較大的差異,會(huì)極大地影響它的容量和安全性。對(duì)其進(jìn)行研究,有助于提高我們的電池組的整體水平,獲得更高的壽命,降低產(chǎn)品的不良率。

 

含一定電量的電池,在某一溫度下,在保存一段時(shí)間后,會(huì)損失一部分容量,這就是自放電。簡(jiǎn)單理解,自放電就是電池在沒有使用的情況下容量損失,如負(fù)極的電量自己回到正極或是電池的電量通過副反應(yīng)反應(yīng)掉了。

自放電的重要性

目前鋰電池在類似于筆記本,數(shù)碼相機(jī),數(shù)碼攝像機(jī)等各種數(shù)碼設(shè)備中的使用越來(lái)越廣泛,另外,在汽車,移動(dòng)基站,儲(chǔ)能電站等當(dāng)中也有廣闊的前景。在這種情況下,電池的使用不再像手機(jī)中那樣單獨(dú)出現(xiàn),而更多是以串聯(lián)或并聯(lián)的電池組的形式出現(xiàn)。

電池組的容量和壽命不僅與每一個(gè)單個(gè)電池有關(guān),更與每個(gè)電池之間的一致性有關(guān)。不好的一致性將會(huì)極大拖累電池組的表現(xiàn)。

自放電的一致性是影響因素的一個(gè)重要部分,自放電不一致的電池在一段時(shí)間儲(chǔ)存之后SOC會(huì)發(fā)生較大的差異,會(huì)極大地影響它的容量和安全性。對(duì)其進(jìn)行研究,有助于提高我們的電池組的整體水平,獲得更高的壽命,降低產(chǎn)品的不良率。

自放電機(jī)理

電池開路時(shí),不發(fā)生以上反應(yīng),但電量依然會(huì)降低,這主要是由于電池自放電所造成。造成自放電的原因主要有:

a.電解液局部電子傳導(dǎo)或其它內(nèi)部短路引起的內(nèi)部電子泄露。

b.由于電池密封圈或墊圈的絕緣性不佳或外部鉛殼之間的電阻不夠大(外部導(dǎo)體,濕度)而引起的外部電子泄露。

c.電極/電解液的反應(yīng),如陽(yáng)極的腐蝕或陰極由于電解液、雜質(zhì)而被還原。

d.電極活性材料局部分解。

e.由于分解產(chǎn)物(不溶物及被吸附的氣體)而使電極鈍化。

f.電極機(jī)械磨損或與集流體間電阻變大。

 

自放電的影響

 

1、自放電導(dǎo)致儲(chǔ)存過程容量下降

 

幾個(gè)典型的自放電過大造成的問題:

1、汽車停車時(shí)間過久,啟動(dòng)不了;

2、電池入庫(kù)前電壓等一切正常,待出貨時(shí)發(fā)現(xiàn)低電壓甚至零電壓;

3、夏天車載GPS放在車上,過段時(shí)間使用感覺電量或使用時(shí)間明顯不足,甚至伴隨電池發(fā)鼓。

 

2、金屬雜質(zhì)類型自放電導(dǎo)致隔膜孔徑堵塞,甚至刺穿隔膜造成局部短路,危及電池安全

3、自放電導(dǎo)致電池間SOC差異加大,電池組容量下降

由于電池的自放電不一致,導(dǎo)致電池組內(nèi)電池在儲(chǔ)存后SOC產(chǎn)生差異,電池性能下降??蛻粼谀玫絻?chǔ)存過一段時(shí)間的電池組之后經(jīng)常能夠發(fā)現(xiàn)性能下降的問題,當(dāng)SOC差異達(dá)到20%左右的時(shí)候,組合電池的容量就只剩余60%~70%。

4、SOC差異較大容易導(dǎo)致電池的過充過放

一、化學(xué)&物理自放電的區(qū)分

1、高溫自放電與常溫自放電對(duì)比

物理微短路與時(shí)間關(guān)系明顯,長(zhǎng)時(shí)間的儲(chǔ)存對(duì)于物理自放電的挑選更有效;而高溫下化學(xué)自放電則更顯著,應(yīng)用高溫儲(chǔ)存來(lái)挑選。

按照高溫5D,常溫14D的方式儲(chǔ)存:如果電池自放電以物理自放電為主,則常溫自放電/高溫自放電≈2.8;如果電池自放電以化學(xué)自放電為主,則常溫自放電/高溫自放電<2.8。

 

2、循環(huán)前后的自放電對(duì)比

循環(huán)會(huì)造成電池內(nèi)部微短路熔融,從而使物理自放電降低,所以:如果電池自放電以物理自放電為主,則循環(huán)后的自放電降低明顯;如果電池自放電以化學(xué)自放電為主,則循環(huán)后的自放電無(wú)明顯變化。

3、液氮下測(cè)試漏電

在液氮下使用高壓測(cè)試儀測(cè)量電池漏電流,如有以下情況,則說明微短路嚴(yán)重,物理自放電大: 1)某一電壓下,漏電流偏大; 2)不同電壓下,漏電流之比與電壓之比相差大。

4、隔膜黑點(diǎn)分析

 

通過觀察和測(cè)量隔膜黑點(diǎn)的數(shù)量、形貌、大小、元素成分等,來(lái)判斷電池物理自放電的大小及其可能的原因:1)一般情況下,物理自放電越大,黑點(diǎn)的數(shù)量越多,形貌越深(特別是會(huì)穿透到隔膜另一面); 2)依據(jù)黑點(diǎn)的金屬元素成分判斷電池中可能含有的金屬雜質(zhì)。

5、不同SOC的自放電對(duì)比

 

不同SOC狀態(tài)下,物理自放電的貢獻(xiàn)會(huì)有差異。通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,100%SOC下更容易分辨物理自放電異常的電池。

 

二、自放電測(cè)試

1、自放電檢測(cè)方法

1)電壓降法

用儲(chǔ)存過程中電壓降低的速率來(lái)表征自放電的大小。該方法操作簡(jiǎn)單,缺點(diǎn)是電壓降并不能直觀地反映容量的損失。電壓降法最簡(jiǎn)單實(shí)用,是當(dāng)前生產(chǎn)普遍采用的方法。

 

2)容量衰減法

即單位時(shí)間內(nèi)容量降低的百分?jǐn)?shù)來(lái)表示。

 

3)自放電電流法Isd

根據(jù)容量損失和時(shí)間的關(guān)系推算電池儲(chǔ)存過程中的自放電電流Isd。

 

4)副反應(yīng)消耗的Li+摩爾數(shù)計(jì)算法

基于電池儲(chǔ)存過程Li+消耗速率受負(fù)極SEI膜電子電導(dǎo)的影響,推導(dǎo)算Li+消耗量隨儲(chǔ)存時(shí)間的關(guān)系。

2、自放電測(cè)量系統(tǒng)關(guān)鍵點(diǎn)

1)選取合適的SOC

dOCV/dT受SOC影響,溫度對(duì)OCV的影響在平臺(tái)處被顯著放大,帶來(lái)很大的SOC預(yù)測(cè)誤差。需選擇對(duì)溫度變化相對(duì)不敏感的SOC測(cè)試自放電,如:FC1865:25%SOC測(cè)自放電;LC1865:50%SOC測(cè)自放電。

因電池容量差異,故實(shí)際電池的SOC存在波動(dòng),公差約為4%左右,故考察5%的公差范圍內(nèi)OCV曲線斜率的變化。LC1865 53%和99.9%SOC處斜率很穩(wěn)定,分別為3.8mV/%SOC和10mV/%SOC。FC1865 ~25%SOC處斜率比較穩(wěn)定;當(dāng)然滿電態(tài)也是個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)用的自放電測(cè)量點(diǎn)。

2)起始時(shí)間的選定

 

FC1865 25%SOC下(也可以是其他SOC值)看充電結(jié)束后每小時(shí)電壓變化,20h以后電壓降速率基本一致,可以認(rèn)為極化已基本恢復(fù)。故選取24h作為自放電測(cè)試起始時(shí)間。

LC1865 50%SOC下14h以后電壓變化速率在0.01mV/h上下小范圍波動(dòng),可以認(rèn)為極化已基本恢復(fù),選取24h作為自放電起始點(diǎn)是可行的。

3)儲(chǔ)存溫度和時(shí)間

 

儲(chǔ)存溫度和時(shí)間對(duì)自放電的影響(LC1865H)

在研究區(qū)間內(nèi),自放電與時(shí)間和溫度均呈顯著的線性關(guān)系??蓪⒆苑烹娔P蛿M合為:自放電=0.23*t+0.39*(T-25)。(以上數(shù)值和關(guān)系式和電池體系有關(guān),常量會(huì)相應(yīng)變化,以下其他關(guān)系也是。)

常溫下由于化學(xué)反應(yīng)速率的降低,其物理自放電的異常點(diǎn)表現(xiàn)更明顯。14D儲(chǔ)存能夠非常好的預(yù)測(cè)28D的結(jié)果。

3、自放電測(cè)量系統(tǒng)的改進(jìn)

 

1)測(cè)電壓溫度

測(cè)電壓環(huán)境溫度對(duì)自放電的影響:FC1865:每增加1℃,電壓下降0.05mV;LC1865:每增加1℃,電壓下降0.17mV。

2)電壓表選型

 

在電壓表的選擇上,由于自放電研究的是0.1mV層面的變化,傳統(tǒng)的4位半電壓表(精確到1mV,分辨率到0.1mV)已不適合,故選用六位半Agilent 34401A電壓表,(精確達(dá)到0.1mV,分辨率達(dá)到0.01mV甚至更高)。另外該量?jī)x的重復(fù)性也相當(dāng)不錯(cuò)。

4、自放電標(biāo)準(zhǔn)的確定

1)理論推算

2) 1mV差異模擬

 

通過人為調(diào)整10%SOC差異模擬1mV(28天1mv,14天0.5mv的差異)自放電差異使用3年后的Balance結(jié)果。3組電池均未發(fā)生過充的安全問題,但是放電時(shí)的電壓差已經(jīng)非常大(1200mV),自放電大的電池被過放至2.5V,PACK容量損失10%。

自放電影響因素及控制要點(diǎn)

 

一、原材料金屬雜質(zhì)

 

1、金屬雜質(zhì)的影響機(jī)理

電池中:金屬雜質(zhì)發(fā)生化學(xué)和電化學(xué)腐蝕反應(yīng),溶解到電解液: Mn+ + ne-;此后,Mn+遷移到負(fù)極,并發(fā)生金屬沉積:Mn+ + ne- M;隨著時(shí)間的增加,金屬枝晶在不斷生長(zhǎng),最后穿透隔膜,導(dǎo)致正負(fù)極的微短路,不斷消耗電量,導(dǎo)致電壓降低。

注:以上只是最常見的形式,還可能有很多其他的影響機(jī)理。

2、不同種類金屬屑影響程度

1)正極漿料中添加不同種類金屬屑

可定性的對(duì)影響程度排序Cu>Zn>Fe>Fe2O3

注:原則上,只要是金屬雜質(zhì)(如以上未列出的還有FeS\FeP2O7…),都會(huì)對(duì)自放電產(chǎn)生較大影響,影響程度一般是金屬單質(zhì)最強(qiáng)。

金屬屑電池的隔膜黑點(diǎn)形貌深(穿透到另一面)、數(shù)量多:

隔膜黑點(diǎn)的金屬元素成分與添加的金屬種類相吻合,說明隔膜黑點(diǎn)上的金屬元素確實(shí)來(lái)源于金屬雜質(zhì):

2)負(fù)極漿料中添加不同種類金屬屑

負(fù)極漿料中金屬雜質(zhì)的影響不及正極漿料中的金屬雜質(zhì);其中,Cu、Zn 對(duì)自放電有顯著影響;Fe、氧化鐵未觀察到顯著影響。

3、金屬雜質(zhì)關(guān)鍵控制

1)建立磁性金屬雜質(zhì)的測(cè)試方法

①用電子稱稱量粉末后,投入到聚四氟乙烯球磨罐中

②將已準(zhǔn)備好的磁鐵投入粉末,放超純水

③球磨機(jī)以200±5rpm的速度攪拌30±10分鐘

④攪拌完畢后,取出內(nèi)部的磁鐵(避免用手或其他器具直接接觸

⑤磁鐵表面吸的正極活性物質(zhì),用超純水來(lái)洗凈后,利用超聲波來(lái)洗凈 15±3秒鐘。

 ⑤項(xiàng)的手法反復(fù)進(jìn)行多次——磷酸鐵鋰:20遍;其它物料:5-8

⑦洗凈好的磁鐵轉(zhuǎn)移到100ml燒杯里。(防止異物的混入)

⑧在燒杯里,倒稀王水(鹽酸:硝酸=3:1)6ml后,再加入磁鐵沉浸程度的超純水。然后加熱20分鐘左右

⑨將加熱好的溶液轉(zhuǎn)移到100ml容量瓶里,至少潤(rùn)洗3次,并把潤(rùn)洗液也轉(zhuǎn)移到容量瓶中,最后用超純水定容

⑩準(zhǔn)備好的溶液,送AAS進(jìn)行定量分析鐵,鉻,銅,鋅,鎳,鈷的含量(磷酸鐵鋰再加測(cè)一個(gè)鋰元素)。

測(cè)量原材料的磁性金屬雜質(zhì)含量:

磷酸鐵鋰:

雜質(zhì)成分包含FeCr、Ni、AlP等,雜質(zhì)金屬應(yīng)該為不銹鋼。

KS6:

磁性金屬雜質(zhì)主要成分是Al,還有少量Mg。

2)對(duì)金屬雜質(zhì)含量過高的原材料進(jìn)行除鐵

3)原材料除鐵對(duì)自放電的改善

二、制程粉塵金屬屑

1、制程中粉塵金屬屑的潛在來(lái)源

2、采取措施減少和消除粉塵金屬屑

3、實(shí)例

使用自動(dòng)卷繞機(jī)后,極片掉料顯著改善:

使用自動(dòng)卷繞機(jī)后,極芯短路率顯著降低:

自動(dòng)卷繞機(jī)對(duì)自放電的改善:

整個(gè)車間和產(chǎn)線的非金屬化、5S行動(dòng):

三、電池水分

1、水分對(duì)自放電的影響機(jī)理

當(dāng)電池中有H2O存在時(shí),首先,其會(huì)與LiPF6反應(yīng),生產(chǎn)HF等腐蝕性氣體;同時(shí)與溶劑等反應(yīng)產(chǎn)生CO2等氣體引起電池膨脹;HF會(huì)與電池中眾多物質(zhì)如SEI主要成分反應(yīng),破壞SEI膜;生成CO2H2O等;CO2引起電池膨脹,重新生成的H2O又參與LiPF6、溶劑等反應(yīng);形成惡性鏈?zhǔn)椒磻?yīng)! SEI膜破壞的后果:1)、溶劑進(jìn)入石墨層中與LixC6反應(yīng),引起不可逆容量損失;2)、破壞的SEI修復(fù)則要消耗Li+和溶劑等,進(jìn)一步造成不可逆容量損失。

 
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